Speaker

杨斯元博士，中芯国际集成电路新技术研发（上海）有限公司

　　Title

　　Time

　　Venue

思源楼309

　　Abstract

本讲座通过一个虚拟的物理实验来演示传统的实验方法的过程，然后再引进科学的试验设计方法进行对比，从而演示传统方法的局限性并突显科学的试验设计方法的强大。我们也分析了为什么传统方法这么低效，在强调了工程知识的重要性的同时还特别指出了工程知识的局限性，澄清了一种非常流行的错误认知。简洁地介绍了试验设计诸多方法的概要，经典设计的局限性，最优设计与均匀设计的灵活性，特别讨论了均匀扩充设计的重要性与最新进展。

　　Affiliation

杨斯元 （Frank Yang），82年2月毕业于复旦大学核物理专业。85年2月于复旦大学获得核物理硕士学位。后赴美国留学于伊利诺大学香槟分校分别获得核工程硕士及材料科学与工程博士。之后加入美国应用材料及英特尔等公司，从事半导体工业研究与开发工作。曾任应用材料公司硅蚀刻实验室主任。 2001年5月回国加入中芯国际集成电路制造（上海）有限公司。先后在生产线与研发部门任职，从事工艺、工艺整合与可靠性工作。2004年开始全职投入从事工业统计应用，包括半导体计量学与可靠性。目前在中芯国际集成电路新技术研发（上海）有限公司任职主任技术专家。在工业统计与半导体制造，设备及其测量方面发表有四十多篇技术文章，二十多项专利。先后获得多次浦东新区张江园区专项人才补贴以及公司内部人才激励方案专项补贴。 上海财经大学统计与管理学院应用统计硕士学位兼职研究生指导导师。上海师范大学数理统计学院客座教授。中国数学会会员，美国质量学会会员，数学学会均匀设计分会常务理事。中国应用统计学会试验设计分会理事。中国电子学会上海分会可靠性专家委员。可靠性工程师协会上海分会会员。中国计量科学研究院纳米、新材料与物化专业计量咨询专家。